鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

　　鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)偶爾會(huì)示值不準(zhǔn)，那么下面幾個(gè)問題對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響作用，我們來看看如何應(yīng)對(duì)：

　　1、表面粗糙度和表面清潔度

　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對(duì)于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。

　　2、覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份

　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)。

　　3、探頭測(cè)量板的作用力

　　儀器探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測(cè)量值下降?；町a(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?/div>